什么是SEM？

SEM（掃描電子顯微鏡）是一種常見的科學儀器，用于觀察和分析樣品的微觀結構和形貌。

SEM的工作原理是什么？

SEM通過聚焦的電子束照射樣品表面，利用所產生的反射、散射、二次電子和透射電子等信號進行觀察和分析。

SEM可以測量哪些參數？

SEM可以測量許多參數，包括樣品的形貌、表面粗糙度、粒徑大小、組成成分和元素分布等。

SEM與光學顯微鏡相比有哪些優(yōu)勢？

相比于光學顯微鏡，SEM具有以下優(yōu)勢：

• 能夠獲得更高的放大倍數，觀察更細微的細節(jié)。
• 能夠觀察非導電樣品，不需要特殊處理。
• 能夠通過元素分析儀器（如EDS）獲得樣品的元素組成信息。
• 能夠觀察三維表面形貌，提供更全面的信息。

SEM適用于哪些領域？

SEM廣泛應用于材料科學、生物學、地質學、納米技術、電子設備等領域。它可以幫助科學家研究材料的微觀結構和性質，解決問題和改進產品。

SEM的發(fā)展前景如何？

隨著科學技術的不斷進步，SEM的性能和應用領域將不斷拓展。未來，人們對SEM的需求將不斷增加，相信SEM仍將在科學研究和工業(yè)生產中扮演重要的角色。